Это было вполне ожидаемо. Развитие использования спектроскопи | popCrim

Это было вполне ожидаемо.
Развитие использования спектроскопии (в данном случае ToF-SIMS) для выявления латентных следов пальцев рук на сложных для классических методов поверхностях.

Ученые Ноттингемского Университета последний год испытывали как это работает на различных металлических предметах, загрязненных, подвергшихся термическому воздействию, в том числе на стрелянных гильзах и выстреляных пулях.

И получили классные результаты. Время (за 7 месяцев) не повлияло на возможность визуализировать следы, в отличии от того же цианакрилата.
Поворотный механизм помог равномерно считывать информацию с искривленных поверхностей.
Какими-то положительно заряженными ионами сначала очищают загрязненную поверхность, чтобы добраться до следа.
Тем не менее это неразрушающий метод исследования, даже если проводится неоднократно.

В общем, пока одни плюсы. Посмотрим, как будет развиваться и распространяться.