Инженеры из Колорадского университета сделали важный шаг впере | Тренды и Технологии

Инженеры из Колорадского университета сделали важный шаг вперед в сочетании информационного моделирования с искусственным интеллектом и научились предсказывать, когда электроника — например, транзисторы в вашем смартфоне — выйдет из строя. Исследователи изучили небольшие строительные блоки, состоящие из атомов, а затем использовали методы машинного обучения, чтобы оценить, как будут вести себя более крупные структуры, созданные из таких же строительных блоков.

У большинства электронных устройств есть ряд небольших дефектов в компонентах, которые вызывают перегрев в определенных местах микросхемы. Эти слабые места не только замедляют работу устройства, но и, скорее всего, станут причиной его поломки в будущем, спустя годы эксплуатации. Проблема в том, что определить их с помощью моделирования достаточно сложно, ведь в стандартном электронном устройстве содержится порядка нескольких миллиардов атомов.

Компьютерная модель, разработанная учеными, использует искусственный интеллект для изучения физических свойств маленького участка устройства. Она анализирует то, как соединяются между собой атомы и электроны, и определяет энергетический ландшафт в материале. Затем она экстраполирует результаты исследования для оценки распределения энергии в блоке, состоящем из ряда аналогичных участков. Система пока еще не умеет определять слабые места в устройстве размером с телефон, но, по словам ученых, это лишь дело времени, ведь она уже успешно спрогнозировала свойства нескольких реальных материалов, состоящих из атомов кремния и германия.