2022-04-29 20:00:26
Толщина лунного грунта в кратере Шеклтон на Южном полюсе Луны может доходить до 40 м, что позволяет лучше оценить перспективность этого района с точки зрения ресурсов для будущей лунной базы.
Такой результат получили ученые Института геохимии и аналитической химии им. В. И. Вернадского РАН в исследовании, проведенном совместно с коллегами из США и Китая.
Поверхностный слой сыпучего лунного грунта, называемого реголитом, образовался в основном в результате ударного воздействия метеоритов, миллиарды лет бомбардировавших поверхность Луны. Реголит покрывает всю поверхность Луны, однако его толщина зависит от возраста участка и интенсивности его метеоритной обработки. Долгое время считалось, что реголит представляет собой сухую смесь измельченных в песок и пыль пород, однако в последние годы выяснилось, что в кратерах, расположенных в полярных областях, чьи днища постоянно затенены из-за того, что Солнце никогда не поднимается на этих широтах высоко над горизонтом, в составе реголита может находиться небольшое количество водяного льда.
В связи с этим, как пишут авторы исследования, реголит, содержащий водяной лед в полярных областях Луны, представляет большой интерес как для фундаментальной науки по изучению Луны, так и для практических нужд, таких как ресурс для жизнеобеспечения будущих лунных баз и топливо для космических полетов. Именно поэтому полярные области вызывают повышенный интерес исследователей всего мира.
Еще в 1970-х годах советские ученые нашли способ оценки толщины реголита, основанный на анализе характеристик небольших лунных кратеров, покрывающих сплошь всю поверхность Луны, включая днища крупных кратеров. Ведь в основном именно в результате подобной бомбардировки и образуется лунный грунт.
В новом исследовании, проведенном учеными ГЕОХИ РАН с зарубежными партнерами, был применен тот же подход для оценки толщины реголита на днищах трех крупных южнополярных кратеров Луны: кратера Шумейкер, кратер Свердруп и кратер Шеклтон.
Сложность анализа в данном случае заключалась в том, что днища этих кратеров постоянно затенены, и «нормальных» телевизионных или фотоизображений для них не существует, поэтому разглядеть на этих днищах мелкие кратеры обычным способом невозможно. Визуализация деталей поверхности в исследуемых затененных районах может быть получена с использованием цифровых данных методом так называемой «отмывки» изображения участков днищ кратеров размером 8 × 8 км.
Как разъясняют авторы исследования, «отмывкой» называют картографический способ изображения рельефа методом теневой пластики. «Отмывка» создается с помощью компьютерных технологий автоматическим способом с учетом двух параметров: азимута и высоты источника освещения: чем меньше высота источника, тем эффективнее осуществляется затенение. Таким образом цифровая модель превращается в обычную с виду фотографию поверхности, на которой можно разглядеть мелкие кратеры.
Источник: сайт РАН.
@rasofficial
51 views17:00
Н
