Рассмотрим два семейства углеродных материалов – оксид графена (ОГ) и восстановленный оксид графена (ВОГ).
Первый – графеновая плоскость, функционализированная как по краям домена, так и непосредственно по основной плоскости, что приводит к большой доле
sp3 углерода и заметному искривлению этой плоскости в пространстве. Второй –
sp2 аморфный углерод, состоящий из графеновых доменов, окантованных гетероатомами (в основном, кислородные функциональные группы). Поэтому ожидаемо, что данные физико-химических методов анализа для этих материалов будут сильно отличаться.
Так и есть, например, XPS и XRD позволяют отличить ОГ от ВОГ. Но когда дело доходит до сравнения спектров комбинационного рассеяния (КР) картина становится неоднозначной. Визуально спектры одинаковы, но каким образом метод, анализирующий колебательный спектр дает осечку в материалах, имеющих заведомо разную структуру? Почему спектры КР для
sp3 ОГ и
sp2 ВОГ идентичны?
